ダイヤラップ(ML-150P)
小型試料鏡面研磨ダイヤラップ(ML-150P)
〔概 要〕
- 小型試料の鏡面研磨やTEM用薄片の準備試料製作用研磨ができます。
- コンパクトな設計なので、限られたスペースにも設置できます。
〔特 長〕
- 操作が簡単で、特別な技術がなくても精度のよい鏡面が得られます。
- 研磨目的に応じて、各種のサンプルホルダー(試料保治具)が取付けられます。
- ラップ盤は軽量で取り扱いが容易です。
〔用 途〕
- 物性試験、SEM・金相試験用鏡面研磨。
- TEM用薄片の準備試料製作用研磨(厚さ20~30㎛)
〈TEM用準備試料研磨セット例〉
本 体 |
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オプション |
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※このセットは、15㎜×20㎜程度の電子顕微鏡(TEM)用準備試料を製作するための組み合わせです。
〈微構造組織分析試料研磨セット例〉
本 体 |
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オプション |
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基本スペックと製品ラインナップ
項目 | 基本スペックと製品ラインナップ |
---|---|
主電動機 | 単相100V 40W |
ラップ盤回転数 | 30~190min⁻¹ |
ラップ盤の大きさ | Φ150㎜ |
研磨試料寸法 | Φ1㎜~Φ50㎜ |
機体寸法 | Φ258㎜×H455㎜ |
機体質量 | 18㎏ |
製品ラインナップ | 〔No. 商品コード:製品名(型式)/単位〕
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