角度付サンプルホルダー(MKJ-55DEG)
研磨用サンプルホルダー 試料貼付タイプ角度付サンプルホルダー（MKJ-55DEG）
〔概 要〕
薄膜や接合界面の分析、評価試料で、試料面に任意の角度をつけて研磨し、観察面を拡大するときの治具です。
薄膜や接合界面の分析、評価試料で、試料面に任意の角度をつけて研磨し、観察面を拡大するときの治具です。
基本スペック
| 項目 | 基本スペック |
|---|---|
| 傾斜可能角度 | 1°～5°まで |
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